尼康開發(fā)的最新高對比度濾光功能High.Contrast Filter，可大幅提高其 X 射線檢測設(shè)備所生成圖像的對比度。High.Contrast Filter恰如其名，主要的應(yīng)用是 PCBA（印刷電路板組件）以及 BGA（球柵陣列）、電容器和通孔等其它電子電路的質(zhì)量控制。然而，其能力在機械工程領(lǐng)域也同樣能很好地用于鑄件、3D 打印部件或焊接點的無損檢測，并且可對醫(yī)療行業(yè)的吸入器等組件進行故障分析。
在計算機斷層掃描中，組件可通過 3D 方式實現(xiàn)可視化；與此不同的是，一張射線圖像必須以 2D 形式由前向后顯示所有細節(jié)。通常，在射線圖像的高密度區(qū)域?qū)⑻卣骺梢暬?，會涉及到提高整幅圖像的亮度，而這可能會導(dǎo)致低密度區(qū)域曝光過度。高對比度濾光功能的優(yōu)勢在于，能使整幅圖像的對比度趨于正常，在高密度區(qū)域突顯細節(jié)，而又不影響低密度區(qū)域。因此，同一圖像中所有區(qū)域的缺陷均可一并呈現(xiàn)出來，從而減少操作員解讀工作，簡化決策過程，并執(zhí)行更加高效、可靠且可重復(fù)的檢測。
高對比度濾光功能軟件包High.Contrast Filter自 2023 年 5 月 9 日起即可訂購，具備創(chuàng)新處理能力，可用于尼康的自動檢測程序和 C.Clear 實時成像引擎。后者可智能地適應(yīng)不斷變化的 X 射線條件和各種樣品位置，進而自動調(diào)整參數(shù)以提供清晰的射線圖像。憑借強大的微焦點射線源和行業(yè)領(lǐng)先的高動態(tài)范圍探測器，尼康的 X 射線檢測設(shè)備始終能夠捕捉到原始射線圖像中的極小缺陷。利用High.Contrast Filter，對比度和清晰度均可提升至全新水平，從而以更醒目的細節(jié)揭示可能存在的任何孔隙、裂縫和其他缺陷。
